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Düsseldorf, Germania – Toshiba Electronics Europe GmbH (“Toshiba”) ha lanciato un nuovo fotorelè progettato specificamente per ridurre la perdita di inserzione e sopprimere l’attenuazione della potenza dei segnali ad alta frequenza. Il nuovo dispositivo è destinato all’utilizzo in applicazioni di test su semiconduttore, tra cui i tester di memoria ad alta velocità, i tester logici ad alta velocità o le schede sonda.
Grazie al formato ottimizzato del package, il nuovo TLP3475W ha diminuito la capacità e l’induttanza parassita, riducendo pertanto la perdita di inserzione dei segnali nell’intervallo di frequenze attorno a 20GHz (tipico). Ciò rappresenta un miglioramento delle prestazioni di un fattore 1,5 rispetto al dispositivo TLP3475S esistente.
La corrente (IFT) necessaria per pilotare il LED è <3,0mA e la resistenza nello stato (RON) è tipicamente 1,1Ω. La tensione di isolamento (BVs) supera i 300Vrms e la capacità di uscita (COFF) è inferiore a 20pF, consentendo di ottenere tempi di commutazione nella regione dei 2ms. Essa offre una funzione normalmente aperta (NO) / 1-Forma-A.
Il nuovo TLP3475W è alloggiato in un package WSON4 che misura appena 1,45 mm x 2,0 mm x 0,8 mm (tipico), che lo rende uno dei più piccoli fotorelè attualmente disponibili. Quest’ultimo è più piccolo del 40% rispetto al package ultracompatto S-VSON4T di Toshiba ed è di particolare valore nei progetti multicanale in cui vengono installati più dispositivi su una singola scheda.
L’intervallo di temperature operative va da -40oC a +110oC, e lo rende adatto per le applicazioni industriali, incluso il test su semiconduttore ad alta velocità.
Maggiori informazioni sul TLP3475W sono disponibili qui – https://toshiba.semicon-storage.com/eu/semiconductor/product/isolators-solid-state-relays/photorelay-mosfet-output/detail.TLP3475W.html
