Emerson, leader globale nell’automazione, ha annunciato nuove funzionalità per il testing in radiofrequenza (RF) che consentono agli ingegneri di caratterizzare dispositivi sempre più complessi e di scalare workflow di misurazione automatizzati. Il nuovo NI PXIe-5633, un analizzatore di reti vettoriale (VNA) a quattro porte, insieme ai miglioramenti software orientati alla sincronizzazione per il NI PXIe-5860 Vector Signal Transceiver (VST), estende le capacità di validazione RF verso nuove applicazioni MIMO (Multiple Input Multiple Output) e di analisi dei parametri S multiporta, il tutto all’interno della piattaforma NI PXI, scalabile e basata sul software.
Nuove funzionalità per gli ingegneri RF
Le nuove funzionalità consentiranno agli ingegneri di:
- Ampliare le capacità di validazione RF con l’analisi di rete vettoriale a quattro porte, in grado di rispondere alla crescente complessità delle architetture dei dispositivi e ai nuovi requisiti delle misurazioni multiporta.
- Affrontare le sfide dei test wireless di nuova generazione grazie alle funzionalità avanzate di sincronizzazione di NI PXIe-5860, che supportano applicazioni RF MIMO, multicanale e sensibili alla precisione temporale.
- Integrare le misurazioni in un unico sistema, combinando l’analisi di rete e le misurazioni RF modulate in una sola architettura PXI, così da ridurre la complessità del sistema e semplificare i workflow di test.
- Realizzare sistemi di test pronti a evolvere nel tempo, grazie a una piattaforma scalabile e connessa via software, capace di estendere i workflow di misurazione automatizzati dalla validazione del progetto fino alla produzione.
Dichiarazione di Kevin Schultz
“I test RF non si limitano più alla validazione di singoli componenti considerati isolatamente. Con l’evoluzione dei sistemi wireless, sempre più distribuiti, definiti dal software e basati su architetture con un numero elevato di antenne, gli ingegneri hanno bisogno di architetture di test capaci di evolvere con la stessa rapidità delle tecnologie da validare”, ha dichiarato Kevin Schultz, Chief Technology Officer di NI nell’ambito dell’attività Test & Measurement di Emerson. “Queste funzionalità testimoniano il nostro impegno nell’aiutare gli ingegneri a realizzare infrastrutture di test flessibili, in grado di supportare la validazione a livello di sistema e le future innovazioni nel settore wireless.”
NI PXIe-5633 e NI PXIe-5860
Il NI PXIe-5633 amplia le capacità di analisi di rete vettoriale a quattro porte di NI, consentendo agli ingegneri di caratterizzare dispositivi RF sempre più complessi. Poiché i sistemi wireless si basano in misura crescente su percorsi RF multipli, radio sincronizzate e architetture distribuite, è necessario analizzare le interazioni dell’intero sistema, anziché valutare i singoli componenti separatamente. I miglioramenti software del NI PXIe-5860 supportano workflow basati sulla sincronizzazione e sul MIMO, rispondendo a requisiti di test wireless sempre più complessi.
Gli ingegneri possono inoltre caratterizzare i parametri S ed eseguire misurazioni RF modulate utilizzando un’unica connessione RF. Riunire queste misurazioni in un sistema PXI controllato via software può ridurre la necessità di strumenti e configurazioni di test separati, garantendo al tempo stesso un percorso coerente verso l’automazione.
Dimostrazione alla European Microwave Week
Le nuove funzionalità sono presentate allo stand A40B durante la European Microwave Week con una dimostrazione MIMO 4×4 basata su NI PXIe-5860 e sul VNA a quattro porte. Le applicazioni spaziano dalla validazione dei semiconduttori alla ricerca wireless avanzata, fino ai sistemi aerospaziali e di difesa e ad altre tecnologie ad alta intensità RF, sempre più spesso basate su architetture multiantenna, multicanale e definite dal software.
Ulteriori informazioni
Scopri di più sui transceiver vettoriali di segnali NI e sugli analizzatori di rete NI.
