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Il continuo aumento della quantità di dati da parte degli utenti, implica un sempre più vasto impiego di link digitali ad alta velocità nei prodotti elettronici, i quali aumentano di conseguenza la complessità dei progetti, anche dal punto di vista del test e debug. Avere l’opportunità di prendere in tempo le giuste decisioni, consente di evitare il re-spin dei prototipi e ridurre di conseguenza il time to market.
Il seminario Keysight “Fondamenti di Misura sull’Integrità dei Segnali” affronta le sfide che i progettisti e gli sviluppatori di sistemi High Speed Digital devono affrontare a livello di componenti, circuiti e sistemi.
Cinque presentazioni molto focalizzate, forniranno una visione approfondita sugli aspetti dell’integrità del segnale come Jitter, Crosstalk, TDR, power integrity, embedding & de-embedding, inclusi l’utilizzo degli oscilloscopi nelle applicazioni RF.
Agenda:
09:00 Registrazione
09:30 Benvenuto & Introduzione
09:45 Approfondimenti sulle Sfide nei Test Digitali ad Alta Velocità
10:30 Pausa Caffè e Demo Session
11:00 Advanced optical transmission systems: experimental activity at CNIT
11:45 Misure Avanzate di Jitter & Analisi del Crosstalk
12:30 Pausa Pranzo
13:45 Uso degli Oscilloscopi e AWG in Applicazioni RF
14:45 Conclusioni & Demo Session
A Pisa il 26 marzo 2019.
