Yokogawa – Test & Measurement Corporation lancia i moduli misuratori di potenza ottica di nuova generazione della serie AQ2300

Yokogawa Test & Measurement Corporation annuncia il lancio, il 14 aprile, dei moduli misuratori di potenza ottica (OPM) AQ23211A e AQ23212A che si aggiungono alla serie AQ2300, un sistema di test multi-applicazione per i produttori di dispositivi a semiconduttore e componenti ottici come le fibre ottiche.

Disponibili sia in versione a 1 che a 2 canali, questi moduli ereditano la funzionalità e l’elevata affidabilità della precedente serie AQ2200 offrendo al contempo nuove funzionalità come una funzione di connessione sincrona tra gli OPM e l’unità sorgente-misura (SMU), velocità di comunicazione più elevate all’interno del frame e velocità di trasferimento file più elevate all’esterno del frame. Offrendo una soluzione di misura fotonica-elettronica convergente a singolo chassis, la serie AQ2300 offre ai clienti un notevole risparmio di spazio e tempo.

                                                                       Moduli misuratori di potenza ottica AQ23211A e AQ23212A

Contesto di sviluppo

Lo sviluppo degli OPM AQ23211A e AQ23212A è stato guidato dalla necessità di misurazioni ottiche più rapide e accurate nei campi della fotonica e dell’elettronica.

Yokogawa mirava a creare una soluzione in grado di soddisfare la crescente domanda di acquisizione dati ad alta velocità e trasferimento di grandi volumi di dati nelle misurazioni di potenza ottica.

Caratteristiche principali

1. Campionamento e trasferimento dati rapidi

Gli OPM AQ23211A/AQ23212A offrono un tempo di media di 20 µs*, un miglioramento sostanziale rispetto ai precedenti 100 µs. Questo miglioramento consente una raccolta dati più rapida e accurata, migliorando l’efficienza delle misurazioni. Inoltre, il tempo di trasferimento per file contenenti fino a 100.001 punti dati è ora inferiore a un secondo, consentendo il trasferimento di grandi volumi di dati ad alta velocità. Per le misurazioni di potenza ottica, il numero massimo di punti dati è aumentato da 20.001 a 1.000.001. Questi miglioramenti rendono gli OPM AQ23211A e AQ23212A altamente efficienti e precisi, offrendo un significativo risparmio di tempo e costi.

* Tempo di ripetizione delle misurazioni per calcolare il valore medio

 

2. Sincronizzazione con la SMU

Parte dell’ambizione di sviluppo era che i nuovi OPM si integrassero perfettamente anche con la SMU AQ23811A già rilasciata all’interno del sistema di test modulare multi-applicazione a singolo frame della serie AQ2300. La SMU offre una generazione di forme d’onda a impulsi di alta qualità (ampiezza di 50 µs), elevata interoperabilità e la possibilità di eseguire misurazioni simultanee di tensione e corrente. Gli utenti possono facilmente sincronizzare la SMU e gli OPM all’interno del frame senza alcun cablaggio, offrendo una soluzione di misura della convergenza fotonica-elettronica pratica e salvaspazio che soddisfa in modo flessibile diversi requisiti applicativi.

Secondo la ricerca di Yokogawa, il sistema di test modulare multi-applicazione della serie AQ2300, che ospita sia la SMU che i nuovi OPM AQ23211A/AQ23212A in un unico chassis, è la prima soluzione di questo tipo disponibile sul mercato. Il telaio è dotato di un’interfaccia I/O digitale che può essere collegata a dispositivi esterni, consentendo all’AQ2300 di ricevere segnali di inizio e fine misurazione e di trasmetterli. Questa caratteristica aumenta la flessibilità e l’adattabilità del sistema, rendendolo adatto a sistemi di misura di piccole e medie dimensioni.

 

Principali mercati di riferimento

Produttori di dispositivi a semiconduttore nel settore delle comunicazioni

Produttori di componenti ottici passivi, comprese le fibre ottiche

Fornitori di apparecchiature di assemblaggio o collaudo di componenti ottici

Università e istituti di ricerca

 

Applicazioni

Misurazione di componenti ottici a semiconduttore come LED, LD, PD, transceivers, apparecchiature di trasmissione e guide d’onda ottiche

Misurazione di componenti elettrici a semiconduttore, come transistor e FET

Misurazione di componenti ottici passivi, come le fibre ottiche

 

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